速跃芯仪

PRODUCT

产品中心

SEMICONDUCTOR TEST PLATFORM

产品矩阵

PRODUCT MATRIX

覆盖 ATE、存储器测试、动态老化以及高速接口测量等方向,形成面向芯片验证、量产导入与教学实训的完整设备矩阵。

SY1000
MIXED SIGNAL TEST

SY1000集成电路测试系统

面向中小规模数模混合集成电路测试,支持数字、模拟及混合信号器件的功能验证与参数测试。

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SY2000
MIXED SIGNAL TEST

SY2000集成电路测试系统

小型集成电路测试平台,适用于数字、模拟以及混合信号器件的功能与参数验证场景。

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SY3000
SOC TEST SYSTEM

SY3000集成电路测试系统

高性能 SoC 测试系统,支持高并发测试条件下的独立通道处理与整机时序同步控制。

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SY6000
MEMORY TEST

SY6000存储器测试系统

面向各类存储芯片的高性能测试解决方案,覆盖更完整的存储器验证与量产测试需求。

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SY2010A/B
BURN-IN PLATFORM

动态老化测试平台 SY2010A/B

用于集成电路动态老化与可靠性评估的专业平台,适配筛选、验证与寿命测试需求。

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SY5501
SERDES ANALYZER

SY5501误码率测试仪

支持 500Mbps 到 12Gbps 的高速串行接口测试,适用于 SerDes、PCIe、USB 等高速链路分析。

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SY5502
HIGH-SPEED CABLE TEST

SY5502电缆测试仪

面向 PCIe、USB 等高速数据线缆测试,支持电气参数、误码率与眼图分析。

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