SY3000集成电路测试系统

产品简介

SY3000是面向高性能SoC器件的测试系统，支持高并发测试条件下的独立通道处理、整机时序同步和复杂测试任务组织，适合高端芯片验证与工程化测试场景。

应用领域

• SoC芯片测试
• 高性能数字芯片验证
• 复杂功能测试
• 工程化导入测试
• 产线测试方案开发

产品特点

• 面向大规模SoC测试任务
• 支持高并发测试资源组织
• 整机时序同步能力强
• 适配复杂测试程序开发
• 可承接工程化交付需求

技术参数

产品定位	高性能SoC测试系统
测试对象	SoC、高性能数字芯片、复杂混合信号器件
典型场景	芯片验证、工程导入、量产测试方案开发
系统能力	多通道协同、时序同步、复杂程序执行
服务支持	测试方案设计、程序开发、交付调试