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动态老化测试平台 SY2010A/B
集成电路动态老化与可靠性评估设备
产品简介
SY2010A/B用于集成电路动态老化测试和可靠性筛选，可在设定温度、电气条件和运行流程下对器件进行长期运行验证，帮助用户完成可靠性评估与质量筛选。
应用领域
- 芯片动态老化测试
- 可靠性评估
- 寿命测试
- 批量筛选
- 质量验证
产品特点
- 支持动态运行条件下的老化测试
- 适配多类集成电路器件
- 运行状态可监控
- 适合可靠性验证与批量筛选
- 支持定制化夹具与流程配置
技术参数
| 产品定位 | 动态老化测试平台 |
| 测试对象 | 集成电路器件与模块 |
| 典型场景 | 可靠性评估、寿命测试、批量筛选 |
| 系统能力 | 温度、电气条件与运行流程协同控制 |
| 服务支持 | 夹具适配、流程配置、现场交付 |
